РОЗГОРНУТИЙ ПЛАН
дисертації на здобуття наукового ступеня доктора наук
Беляка Євгена В’ячеславовича
«Фізико-технічні основи застосування наноструктурованих реєструвальних середовищ у магнітному та магнітооптичному записі інформації»
дисертації на здобуття наукового ступеня доктора наук
Беляка Євгена В’ячеславовича
«Фізико-технічні основи застосування наноструктурованих реєструвальних середовищ у магнітному та магнітооптичному записі інформації»
РОЗДІЛ 1. Системи надщільного запису цифрової інформації.
1.1. Системи надщільного запису на основі магнітних реєструвальних середовищ.
1.1.1. Структуровані магнітні носії інформації.
1.1.2. Термомагнітооптичні носії інформації.
1.2. Системи надщільного запису на основі оптичних реєструвальних середовищ.
1.2.1. Методи збільшення поверхневої щільності оптичного запису.
1.2.2. Методи об’ємного оптичного запису.
1.2.2.1. Багаторівневі оптичні диски.
1.2.2.2. Багатошарові оптичні диски.
1.2.2.3. Голографічний запис цифрової інформації.
1.3. Системи надщільного запису на основі твердотільних накопичувачів.
1.3.1. Флеш пам'ять.
1.3.2. Магніторезистивні носії інформації.
1.3.3. Носії інформації на основі мемристорної технології.
РОЗДІЛ 2. Аналіз процесів запису та зчитування даних з магнітних та магнітооптичних носіїв.
2.1. Принципи побудови електромеханічної системи, магнітного та магніто-оптичного запису і зчитування інформації.
2.2. Методи організації інформаційної структури магнітного та магнітооптичного носія інформації.
2.3. Вимоги до реєструвальних середовищ магнітних та магнітооптичних носіїв інформації.
2.3.1. Оптичні властивості реєструвальних середовищ.
2.3.2. Магнітні властивості реєструвальних середовищ.
РОЗДІЛ 3. Синтез наноструктурованих реєструвальних середовищ магнітного та магнітооптичного запису.
3.1. Залежність магнітної анізотропії нанокристалів реєструвальних середовищ надщільного магнітного запису інформації від їх лінійних розмірів та форми.
3.2. Дослідження наноструктурованих матеріалів з високим значення магнітної анізотропії на основі кристалів CoPt та FePt.
3.3. Залежність швидкості зміни магнітного стану суперпарамагнітних наночастинок від їх об’єму.
3.4. Методики зменшення ефекту магнітної взаємодії наночастинок при побудові реєструвальних середовищ надщільного запису інформації.
3.5. Визначення оптимального співвідношення між залишковою намагніченістю та намагніченістю насичення магніторезистивного елементу.
РОЗДІЛ 4. Застосування багатошарових структур при побудові магнітних та магнітооптичних накопичувачів.
4.1. Використання розділювальних антиферомагнітних шарів з метою збільшення чутливості високостабільних магнітних середовищ багаторазового запису інформації.
4.1.1. Високостабільні магнітні середовища для повздовжнього запису на основі плівок CoCrPt.
4.1.2. Високостабільні магнітні середовища з перпендикулярним механізмом запису на основі плівок CoCr та CoFe-HfO.
4.2. Збудження плазмонних коливань у приповерхневому шарі наноструктурова-ного магнітного реєструвального середовища.
4.3. Застосування матеріалів на основі аморфних металевих сплавів у високо- чутливих зондах жорстких дисків.
4.4. Дослідження шаруватих структур з ефектом електронного тунелювання, що керується зовнішнім магнітним полем.
4.5. Вимірювання електромагнітних характеристик аморфних металевих стрічок і визначення оптимального методу їх обробки.
4.5.1. Методи термічної та лазерної обробки аморфних металевих стрічок.
4.5.2. Методи кріогенної обробки аморфних металевих стрічок.
4.5.3. Методи механічної обробки аморфних металевих стрічок.
РОЗДІЛ 5. Методи дослідження магнітних реєструвальних середовищ.
5.1. Вимірювання структурних параметрів поверхні магнітних реєструвальних середовищ з використанням мікроструктурних та рентгеноструктурних методик
5.2. Визначення спектральних залежностей коефіцієнта відбивання світла від зразків аморфних металевих плівок у видимій та інфрачервоній області.
5.3. Побудова діаграм просторового розподілу інтенсивності розсіювання лазерного випромінювання на зразках магнітооптичних реєструвальних середовищ.
5.4. Визначення оптичних характеристик феромагнітних плівок методами багатокутової та спектральної еліпсометрії.